BS EN 10109-1-1996 金属材料.硬度试验.洛氏试验(刻度A,B.C,D,E,F,G,H,K)洛氏表面试验(刻度15N,30N,45N,15T,30T和45T)
时间:2024-05-17 10:59:23 来源: 标准资料网 作者：标准资料网 阅读：8545
【英文标准名称】:Metallicmaterials.Hardnesstest.Rockwelltest(scalesA,B,C,D,E,F,G,H,K)andRockwellsuperficialtest(scales15N,30N,45N,15T,30Tand45T)
【原文标准名称】:金属材料.硬度试验.洛氏试验(刻度A,B.C,D,E,F,G,H,K)洛氏表面试验(刻度15N,30N,45N,15T,30T和45T)
【标准号】:BSEN10109-1-1996
【标准状态】:作废
【国别】:英国
【发布日期】:1996-01-15
【实施或试行日期】:
【发布单位】:英国标准学会(BSI)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:试验条件;合金;厚度;误差修正;金属;试样;硬度试验;硬度测量;洛氏硬度测量;名称与符号
【英文主题词】:testingconditions;hardnesstesting;errorcorrection;testspecimens;hardnessmeasurement;thickness;alloys;designations;rockwellhardnessmeasurement;metals
【摘要】:
【中国标准分类号】:H22
【国际标准分类号】:77_040_10
【页数】:18P;A4
【正文语种】:英语
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基本信息
| 标准名称： | 管壳额定开关用场效应晶体管空白详细规范 |
| 英文名称： | Blank detail-specification for field-effect transistors for case-rated swatching application |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术 >>
半导体分立器件 >>
场效应器件 |
| ICS分类： |
电子学 >>
半导体器件 >>
其他半导体器件
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| 发布部门： | 国家技术监督局 |
| 发布日期： | 1995-01-05 |
| 实施日期： | 1995-08-01 |
| 首发日期： | 1995-01-05 |
| 作废日期： | 1900-01-01 |
| 主管部门： | 信息产业部（电子） |
| 归口单位： | 全国半导体器件标准化技术委员会 |
| 起草单位： | 上海无线电十四厂 |
| 出版社： | 中国标准出版社 |
| 出版日期： | 1900-01-01 |
| 页数： | 平装16开， 页数：23， 字数：44千字 |
适用范围
本空白详细规范规定了制订管壳额定开关用场效应晶体管详细规范的基本原则，制订该范围内的所有详细规范应与本空白详细规范一致。本空白详细规范是半导体器件空白详细规范系列中的一个，并应与下列规范一起使用：GB 4589.1《半导体器件分立器件和集成电路总规范》，GB 12560《半导体器件分立器件分规范》。
前言
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所属分类： 电子元器件与信息技术 半导体分立器件 场效应器件 电子学 半导体器件 其他半导体器件